固体密度分辨率试块及其CT切片

液体密度分辨率试块及其CT切片

线对卡试块及其CT切片

射线穿透和分辨率组合试块（包括空间分辨率和密度分辨率）

简介

DOFSIM根据检测工程实践的需要，提供相应的扫查标校工具，主要包括：超声精密扫查标尺，X射线检测标准试块，X射线检测校准标尺。一方面，DOFSIM为用户提供行业标准试块，以满足指定测试需求。另一方面，在总结工程实践的基础上，设计制造更实用的组合试块，以方便用户在一次操作的情况下能读取更多的系统数据。

应用

■ X射线数字成像

■ X射线工业CT

■ X射线安检

■ 超声检测

产品样本下载

■ 射线穿透－分辨率测试组合试块TB&WB